젠슨 황, 삼성 HBM 인증 테스트 실패 없다

삼성 HBM(High Bandwidth Memory) 인증 테스트 실패 여부에 대한 황 CEO의 발언

타이베이에서 열린 기자간담회에서 젠슨 황 엔비디아 CEO가 삼성전자의 고대역폭 메모리, HBM과 관련해 인증 테스트에 실패한 적이 없다며 인증 절차를 진행하고 있다고 밝혔습니다. 이에 따르면 황 CEO는 삼성전자와 마이크론이 제공한 HBM 반도체를 검사 중이라고 언급하였으며, 삼성전자는 인증 테스트에 실패한 적이 없지만 더 많은 엔지니어링 작업이 필요하다고 언급했습니다.

• 황 CEO의 진술은 삼성 HBM 인증 테스트 실패에 대한 엔비디아의 주장을 부인하고, 삼성 HBM 제품이 향후 더 많은 개선 및 작업이 필요한 상황임을 지적하고 있습니다.

로이터통신의 보도와 삼성전자의 입장

로이터통신은 지난달 24일 삼성전자 HBM이 발열과 전력소비 문제 등으로 엔비디아의 테스트를 통과하지 못했다고 보도했고, 삼성전자는 이에 대해 "지속적으로 기술과 성능을 테스트하고 있다"며 반박하였습니다.

종합 및 결론

새로운 반도체 제품의 테스트 및 개발은 다양한 기술적 도전과 과제를 안겨주며, 엔비디아와 삼성전자 간의 이러한 인증 테스트와 발전적인 논의는 향후 반도체 산업의 방향성과 기술 혁신에 큰 영향을 끼치게 될 것으로 보입니다.

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